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中高温银浆用银粉检测

发布时间: 2024-12-05 10:27 更新时间: 2025-01-16 08:30

检测项目

1. 银含量

银含量是中高温银浆用银粉的重要指标之一,其含量的高低直接影响到中高温银浆的导电性和稳定性。本次检测采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)对银粉中的银含量进行测定。

2. 粒度分布

粒度分布是银粉的重要物理性质之一,其分布的均匀性和稳定性直接影响到中高温银浆的涂覆性能和印刷质量。本次检测采用激光粒度分析法对银粉的粒度分布进行测定。

3. 比表面积

比表面积是银粉的重要物理性质之一,其大小直接影响到中高温银浆的活性和反应速率。本次检测采用氮气吸附法对比表面积进行测定。

4. 形貌分析

形貌分析是银粉的重要物理性质之一,其形状和大小直接影响到中高温银浆的涂覆性能和印刷质量。本次检测采用扫描电子显微镜(SEM)对银粉的形貌进行分析。

5. 杂质含量

杂质含量是银粉的重要质量指标之一,其含量的高低直接影响到中高温银浆的性能和品质。本次检测采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)对银粉中的杂质含量进行测定。

检测方法

1. 银含量测定

称取一定量的银粉样品,加入适量的硝酸和盐酸,加热溶解后,用去离子水稀释至一定体积,然后采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)对银含量进行测定。

2. 粒度分布测定

称取一定量的银粉样品,加入适量的分散剂,超声分散后,用激光粒度分析仪对粒度分布进行测定。

3. 比表面积测定

称取一定量的银粉样品,放入氮气吸附仪中,在一定的温度和压力下,对氮气的吸附量进行测定,然后根据 BET 方程计算比表面积。

4. 形貌分析

将银粉样品均匀地涂覆在导电胶上,然后放入扫描电子显微镜(SEM)中,对形貌进行分析。

5. 杂质含量测定

称取一定量的银粉样品,加入适量的硝酸和盐酸,加热溶解后,用去离子水稀释至一定体积,然后采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)对杂质含量进行测定。


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